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Praxiskolloquium WS 12/13

Das Praxiskolloquium Ingenieurwissenschaften im Wintersemester 12/13 bestand aus 2 Blöcken.

 

Als Kooperationspartner wurde das Fraunhofer-Instituts für elektronische Schaltungen und Systeme sowie der Fachbereich Energietransport und -speicherung der Universität Duisburg-Essen gewonnen.

In beiden Blöcken gab es Vorträge vor Ort.

Hier geht´s zum Flyer

 

 

Block 1: CMOS-Elektronik und Mikrosystemtechnik für smarte Sensoren

Mikroelektronik ist die Basis aller Hightech-Produkte, die wir alle intensiv nutzen. Chips, hergestellt überwiegend in CMOS-Technologie auf Siliziumscheiben,
stecken in großer Zahl im Auto, in unseren mobilen Computern, in Haushaltsgeräten, auch sonst eigentlich überall.

Vielfältige Ingenieuraufgaben sind mit der Chip-Entwicklung verbunden. Systementwickler machen die Vorgaben, Designer setzen sie um, Technologen
fertigen die Chips, nach dem Test werden sie in die Systeme integriert.

Will man nicht nur elektrische Signale verarbeiten, sondern auch Daten aus der Umwelt, aus Prozessen und der Umgebung nutzen und das Ganze kompakt und „intelligent“ machen, fügt man zur Mikroelektronik die Mikrosystemtechnik hinzu, die kompakte Sensoren mit integrierter elektronischer Schnittstelle liefert.

Das Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme (IMS) ist auf diesen Feldern in Forschung und Entwicklung tätig. Zusammen mit einem industriellen Partner betreiben wir eine CMOS-Fertigungslinie. Im Institut entstehen Schaltungen vom Konzept bis zum fertigen Produkt. Mit dem neuen MST Lab & Fab haben wir die vorhandene Halbleitertechnologie um die vielfältigen Verfahren der Mikrosystemtechnik ergänzt.

Das Praxiskolloquium gibt Ihnen durch einen Vortrag und durch Führungen in unsere Entwicklerlabors sowie unsere Halbleiterfertigung einen kompakten Einblick in die Forschung und Entwicklung im IMS.

Block 2: Qualitätssicherung in der Hochspannungstechnik

Um die Baugröße hochspannungstechnischer Geräte möglichst kompakt zu gestalten, werden die spezifischen Belastungen ihrer Isolierungen mit steigenden Spannungen immer weiter erhöht.

Geringste Verunreinigung beim Herstellungsprozess oder kleinste Fehler bei der Bearbeitung initiieren ein Versagen dieser Materialien. Geschieht dies bei
einem Hochspannungsgerät im Netz und möglicherweise in einem neuralgischen Netzknoten, kann dies einen weitreichenden Stromausfall hervorrufen. Da sich die genannten Unvollkommenheiten nur schwer modellieren lassen, kommt der experimentellen Untersuchung mit Hochspannung eine besondere Bedeutung
im Zuge der qualitätssichernden Maßnahmen zu. Hochspannungsgeräte werden im Originalmaßstab mit Spannungen, die über die normalerweise zu erwartende Belastung hinausgehen, in einer Typoder sogar Stückprüfung getestet.

Im Praxisseminar werden zunächst die typischen elektrischen Belastungen von Hochspannungsisolierungen sowie deren Nachbildung im Labor vorgestellt. Auch werden Messverfahren erläutert, die in der Lage sind, kleinste Fehlstellen sicher nachzuweisen. Die dabei gewonnenen Erkenntnisse werden dann an einem realen Prüfobjekt angewandt, wobei die Auswirkung typischer Fehlerbilder praktisch verdeutlicht wird.